聯發科2454
<Data Center>DFT Design Engineer 可測試性設計工程師
英文職缺・已幫你整理成中文
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職缺摘要
聯發科招募資深可測試性設計工程師,負責資料中心 ASIC 產品的 DFT 架構定義與實作,提升測試涵蓋率與量產品質。
摘要由 AI 依英文原文整理成中文,不是逐字翻譯,以官方職缺為準
職缺內容
工作內容
- 開發與優化測試策略以達成涵蓋率與製造目標,分析並提升測試涵蓋率。
- 於 RTL 與閘極層級整合 DFT 功能,支援晶片層級與區塊層級的 DFT 規劃與實作。
- 執行 ATPG、故障模擬與涵蓋率分析。
- 與後端及實體設計團隊合作,確保符合 DFT 的時序並支援測試模式下的 IR 收斂。
- 主導晶片上電測試與測試功能除錯,進行失效與良率分析。
必備條件
- 具備兩年以上工作經驗。
由英文原文整理成中文的重點,不是逐字翻譯。 看原始職缺的完整內容
技能
- 可測性設計
- RTL 設計
時間軸
官方刊登
2025-05-11(來源提供)
第一次在官方頁發現
追蹤開始前已刊登
最後一次確認仍在官方頁
2026-10-02 12:17・49 分鐘前
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