Senior/Principal Eng, FE OCT CPEE PHOTO METROLOGY
英文職缺・已幫你整理成中文
- Taichung - Fab 16, Taiwan
- 資深
- 9/12 刊登
職缺摘要
美光尋找資深至主任級的微影與overlay量測工程師，負責推動量測良率、品質與生產力改善，解決複雜技術問題並部署最佳作法。
摘要由 AI 依英文原文整理成中文，不是逐字翻譯，以官方職缺為準
職缺內容
工作內容
- 帶領 HVM 微影與疊對量測良率、品質、生產力與成本改善計畫
- 透過數據導向的根因分析解決複雜微影與疊對量測問題
- 跨廠部署微影與疊對量測最佳實務 (BKM)
- 擔任跨廠複雜微影與疊對量測客戶問題的技術窗口
必備條件
- 學士、碩士或博士學位，主修電機、物理、材料、化工或相關領域
- 5年以上 （資深） 或 8年以上 （主任） 半導體微影製程製造經驗
- 具備豐富的光學/疊對量測工程實務經驗
- 具備解決疊對、CDU、量測、倍縮光罩修正與良率匹配等挑戰的經驗
由英文原文整理成中文的重點，不是逐字翻譯。 看原始職缺的完整內容
技能
- 微影製程
- 根因分析
時間軸
官方刊登
2026-09-12（來源提供）・20 天前
第一次在官方頁發現
追蹤開始前已刊登
最後一次確認仍在官方頁
2026-10-02 09:17・41 分鐘前
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