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Overlay Metrology Specialist - eBeam

英文職缺・已幫你整理成中文

  • Hsinchu, Taiwan
  • 資深

職缺摘要

KLA 尋求富經驗的 Overlay Metrology Specialist,負責開發與優化 eBeam 對準量測應用、執行客戶展示與支援先進半導體製程。

摘要由 AI 依英文原文整理成中文,不是逐字翻譯,以官方職缺為準

職缺內容

工作內容

  • 開發、優化與驗證 eBeam 對準、CD、EPE 與製程控制應用。
  • 設計與執行工具效能、準確度與產出之特性化計畫。
  • 主導客戶展示、評估、對決研究與試產驗證。
  • 分析半導體製程與量測資料以解決問題並驅動改善。
  • 跨部門協同產品工程、系統、軟體團隊推動產品改良。

必備條件

  • 具備 eBeam 或光學對準量測專業。
  • 5年以上半導體產業 SEM 與光學量測系統操作經驗。
  • 博士學位加 4 年經驗或碩士學位加 6 年經驗。
  • 具備獨立作業與跨功能團隊合作能力。
  • 具備複雜資料與影像分析能力。

加分條件

  • 具備 Python、MATLAB、JMP、SQL 或類似分析工具經驗。

由英文原文整理成中文的重點,不是逐字翻譯。 看原始職缺的完整內容

技能

  • 失效分析
  • Python
  • MATLAB
  • SQL

時間軸

  1. 第一次在官方頁發現

    追蹤開始前已刊登

  2. 最後一次確認仍在官方頁

    2026-10-02 09:25・25 分鐘前

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