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【鴻軒】數位IC設計工程師 (可測試設計)

  • 台灣
  • 初階

職缺摘要

負責數位IC設計中的可測試性設計(DFT)相關功能實現、設計方法改進、模擬分析以及與團隊合作進行製造測試與故障覆蓋率提升。

摘要由 AI 依官方職缺內容整理，以官方職缺為準

中文重點整理

工作內容

  • DFT相關功能的設計與實現
  • DFT設計方法和品質改進
  • DFT仿真與分析
  • 與產品品管團隊合作進行製造測試
  • 與產品團隊合作進行故障覆蓋率改進和PPM調整

依官方職缺內文整理的重點，不是原文。 看原始職缺的完整內容

技能

  • 可測性設計

時間軸

  1. 第一次在官方頁發現

    追蹤開始前已刊登

  2. 最後一次確認仍在官方頁

    2026-10-02 09:17・43 分鐘前

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